GenesisGEOⅡ

GenesisGEO Ⅱ 核心创新：激光剥蚀固体标准加入法

不同基体样品在离子化过程中响应差异显著，需依赖内标元素校正。为克服基体效应，血液、海水、土壤提取液等溶液分析可采用标准加入法消除干扰。

然而，固体样品难以像液体分析便捷地添加内标元素，导致定量准确度受限，成为制约微区分析精度的核心障碍。在地球科学、材料科学等领域的微区元素分析中，基体效应是传统激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）技术长期面临的根本性挑战。

基于点阵激光剥蚀技术平台，凯来成功将液体分析的标准加入法原理拓展至固体微区分析领域，推出激光剥蚀固体标准加入法（Solid Standard Addition Method）。

技术原理：

利用高精度振镜光学系统，在极短时间内（~10 ms级）对两个或多个不同样品材料进行顺序激光剥蚀，样品气溶胶在样品池中瞬时混合、均质化后进入ICP离子源。这一技术为突破基体效应瓶颈提供了新的解决方案。

技术流程：

技术优势

          剥蚀行为一致性强：飞秒激光相较于纳秒激光，剥蚀行为受基体性质影响低，不同材料间剥蚀效率差异小。系统配备基于体积与质量的多基体校正函数，进一步提升定量准确度。

          多元校准方法兼容：支持固体标准加入法，固体同位素稀释法及固体双稀释剂法等多种定量策略有望解决，满足不同应用场景下的分析需求。

          无需内标元素：通过气溶胶原位混合技术，有效降低基体效应影响，突破传统方法对内标元素的依赖限制

          实现基体组成匹配：待测样品与标准物质的气溶胶在样品池中充分混合，达成基体组成的高度一致性，改善离子化效率匹配度。

GenesisGEO Ⅱ 双光路构架：定量与成像的革新

传统激光剥蚀系统常面临以下应用困境：成像分析与定量分析需更换硬件配置，难以同步实现；高空间分辨率往往以牺牲检测灵敏度为代价；主量元素分析所需的大光斑与微量元素微区分析所需的小光斑缺乏连续可调能力，导致主、微量分析不可兼得。

GenesisGEO Ⅱ的双光路设计针对性回应了上述需求。GenesisGEO Ⅱ在GenesisGEO的成熟技术架构基础上全面升级，创新采用定量/成像双光路架构，实现高精度定量分析与高分辨成像的有机统一，实现固体微区分析的方法学突破。

定量光路 — 实现最小光斑3.1μm至最大光斑1.5 cm的连续可调，支持固体标加法，兼顾微区高精度定量分析与大体积样品均质化测试需求。

成像光路 — 光斑为1-300 μm连续可调，可升级至0.5 μm；优化小体积样品室气路结构，实现快速气体吹扫与高分辨成像，确保成像清晰度与剥蚀区域定位准确性。

双光路协同 — "一键式"快速切换，分析杯与成像杯无需拆改替换，大幅提升实验效率，避免传统设备更换样品室带来的系统扰动与污染风险。

技术总结

GenesisGEO Ⅱ点阵激光剥蚀系统通过双光路点阵激光剥蚀技术平台与固体标准加入法的结合，为固体微区分析中的基体效应问题提供了新的技术解决路径，在保持高空间分辨率的同时改善定量分析准确度。该系统为地球科学、材料科学等领域的科研人员提供了基体自匹配、高空间分辨率、高定量准确度的微区分析解决方案。