半导体晶圆

1 测试项目

元素杂质含量测试

2 测试对象

晶圆(碳化硅、氮化硅、氮化镓、石墨等)

3 测试周期

5-10个工作日

4 送样须知

5 方案描述

6 完成标准

7 长期标样

8 数据处理

价格计算器

结果:

像素点/个: -

单独LIBS或L4-ICP-TOF-MS成像,价格/元:-

LIBS-ICP-TOF-MS同时成像,价格/元:-